OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀檢測奧氏體不銹鋼試塊
OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀檢測奧氏體不銹鋼試塊
使用奧林巴斯OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀檢測客戶帶來的奧氏體不銹鋼試塊,效果明顯,缺陷清晰可見。
典型的奧氏體不銹鋼檢測具有以下難點:
1.晶粒粗大,導致聲波散射嚴重,穿透能力差;
2.晶粒的各向異性導致聲波產(chǎn)生折射,缺陷定位不準確。
我們采用雙線陣探頭+縱波斜楔塊的方案,可以有效的改善這些問題,在這個演示中,我們同時采用了凹曲面楔塊,來增加凸面(Φ120mm)的耦合效果。
典型的奧氏體不銹鋼檢測具有以下難點:
1.晶粒粗大,導致聲波散射嚴重,穿透能力差;
2.晶粒的各向異性導致聲波產(chǎn)生折射,缺陷定位不準確。
我們采用雙線陣探頭+縱波斜楔塊的方案,可以有效的改善這些問題,在這個演示中,我們同時采用了凹曲面楔塊,來增加凸面(Φ120mm)的耦合效果。
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