TFM(全聚焦法)檢測使用AIM 建模工具為反射體選擇最佳傳播模式
TFM(全聚焦法)檢測使用AIM 建模工具為反射體選擇最佳傳播模式
將全聚焦法引入無損檢測
全聚焦法(TFM)在無損檢測(NDT)領(lǐng)域引起了廣泛的關(guān)注。但是在使用TFM時(shí)還有一些挑戰(zhàn)需要解決，比如為給定的檢查選擇正確的傳播模式(波集)。一些早期采用這種方法的人很快意識(shí)到，使用錯(cuò)誤的模式可能意味著完全失去來自屏幕的指示，這帶來了明顯的關(guān)鍵影響。
使用TFM選擇適當(dāng)設(shè)置的挑戰(zhàn)
當(dāng)選擇一個(gè)給定的檢驗(yàn)的傳播模式(波集)時(shí)，檢驗(yàn)員需要知道在被檢驗(yàn)的部分可能會(huì)出現(xiàn)什么樣的缺陷。缺陷的類型將提供反射器的方向信息，這在超聲檢測(UT)中是至關(guān)重要的。傳統(tǒng)UT、相控陣UT或TFM的基本原理是相同的。為了有一個(gè)好的探測概率(POD)，聲波需要與反射器有盡可能多的垂直度。另一個(gè)需要考慮的是探頭參數(shù)。根據(jù)所使用的探頭，能量可能無法達(dá)到目標(biāo)缺陷。盡管TFM區(qū)域是在一個(gè)特定的位置繪制的，但是物理上可能不允許這個(gè)特定的探測將焦點(diǎn)放在那個(gè)位置。有這么多的因素要記住，那么我們?nèi)绾魏喕⒋_保我們的檢查是適當(dāng)?shù)哪?
相同的探頭位置
不同模式
TT
TTT
LLL圖1-嘗試將一系列SDHs成像的不同模式。
使用聲學(xué)影響圖建模工具求解
OmniScan®X3相控陣探傷儀配有內(nèi)置的掃描計(jì)劃工具。它是一個(gè)專門為TFM檢測設(shè)計(jì)的聲學(xué)影響圖(AIM)建模工具。AIM工具幫助用戶選擇正確的傳播模式，或波集，以供檢查。
圖2- OmniScan X3在TFM中的掃描計(jì)劃，顯示聲學(xué)影響圖(AIM)
AIM建模工具考慮多個(gè)參數(shù)，包括探頭和楔塊、速度、厚度、試樣的幾何形狀、檢測技術(shù)、波集，當(dāng)然，還有檢查員在“影響區(qū)”菜單中輸入的參數(shù)，以描述目標(biāo)缺陷類型。
缺陷的方向是影響聲波束探測缺陷的主要因素。AIM模型清楚地向用戶演示了針對給定缺陷在特定角度的信號覆蓋有多好。
利用目標(biāo)建模工具確定最佳傳播模式
用戶繪制所需的感興趣區(qū)域，然后輸入缺陷的預(yù)期方向(以度為單位)，或者選擇“全向”尋找非角度的缺陷，如孔隙度或其他體積類型的缺陷。
調(diào)色板可以清楚地識(shí)別影響區(qū)域的每個(gè)部分的靈敏度性能。每一種顏色覆蓋三分貝范圍，表示超聲波對最大振幅的響應(yīng):
圖2-三張掃描圖截圖顯示，當(dāng)缺陷的方向被調(diào)整到- 5、- 15和- 25度時(shí)，目標(biāo)的變化
目標(biāo)建模工具在TFM中的優(yōu)勢總結(jié)
TFM為工業(yè)檢測應(yīng)用提供了良好的機(jī)會(huì)，但是沒有合適的建模工具，很難預(yù)測真實(shí)的聲波覆蓋范圍和靈敏度水平。OmniScan X3型探傷機(jī)的掃描計(jì)劃工具帶有目標(biāo)建模功能，使檢驗(yàn)員能夠自信地確定哪一種TFM模式適合進(jìn)行檢測。
有關(guān)TFM對相控陣超聲檢測的好處的更多信息，請閱讀我們的應(yīng)用說明“使用總聚焦方法改進(jìn)相控陣超聲成像”。
